发明名称 | 超声成像中的孔径选择的方法和设备 | ||
摘要 | 本发明名称为:“超声成像中的孔径选择的方法和设备”。一种用于控制超声成像系统的方法包括:限定二维(2D)超声图像上的样本容积门,样本容积门限定将要估计流动的位置;自动计算初始发射和接收转向位置(孔径位置)和孔径大小的SNR;自动计算不同的第二发射和接收转向位置(孔径位置)和孔径大小的SNR;自动将第一组孔径的SNR与第二组孔径的SNR进行比较;以及基于该比较自动调整超声探头的发射和接收事件的转向角和孔径大小。 | ||
申请公布号 | CN103169502A | 申请公布日期 | 2013.06.26 |
申请号 | CN201210559902.X | 申请日期 | 2012.12.21 |
申请人 | 通用电气公司 | 发明人 | B.A.劳泽 |
分类号 | A61B8/06(2006.01)I | 主分类号 | A61B8/06(2006.01)I |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 叶晓勇;李浩 |
主权项 | 一种用于控制超声成像系统的方法,所述方法包括:限定二维(2D)超声图像上的样本容积门,所述样本容积门限定将要估计流动的位置;自动计算初始孔径大小和位置的第一信噪比(SNR);自动计算不同孔径大小和/或位置的第二SNR;自动将所述第一孔径的所述第一SNR与所述第二孔径的所述第二SNR进行比较;基于所述比较自动调整超声探头的所述发射和接收束的所述转向角和孔径大小。 | ||
地址 | 美国纽约州 |