发明名称 |
一种通孔互连结构的制作方法 |
摘要 |
本发明公开了一种通孔互连结构的制作方法,包括在基片上制作盲孔,然后依次淀积种子层和有机物薄膜,贴干膜,并通过光刻在盲孔处形成小于盲孔口径的干膜开口,然后刻蚀去除盲孔底部的有机物薄膜,暴露出种子层,再对盲孔进行填充。进一步的,还公开了对通孔提供电子屏蔽的方法。本发明简化了通孔自下而上电镀填充的制作工艺,提高了成品率,降低了通孔互联结构制作的工艺成本;而且提供了一种应力缓冲结构,通孔侧壁覆盖的有机膜可以缓解通孔互连结构的应力状态,提高其可靠性;另外还提供了一种对通孔互联结构的电磁屏蔽结构,有利于提高通孔电信号传输性能,减小通孔间及对其它电路的干扰。 |
申请公布号 |
CN102130042B |
申请公布日期 |
2013.06.26 |
申请号 |
CN201010603554.2 |
申请日期 |
2010.12.14 |
申请人 |
北京大学 |
发明人 |
朱韫晖;马盛林;孙新;缪旻;金玉丰 |
分类号 |
H01L21/768(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/768(2006.01)I |
代理机构 |
北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙) 11200 |
代理人 |
李稚婷 |
主权项 |
一种通孔互连结构的制作方法,包括如下步骤:1)在基片上制作盲孔,该盲孔仅穿透基片的第一表面,但不穿透基片的第二表面,或者是先制作穿透基片两个表面的通孔,然后在基片第二表面封闭通孔的底部形成盲孔;2)在基片的第一表面淀积种子层,种子层覆盖盲孔的侧壁和底部;3)在种子层上保形淀积有机物薄膜;4)在有机物薄膜上贴干膜,然后进行光刻,在盲孔位置形成一个小于盲孔口径的开口;5)用等离子刻蚀的方式,以干膜为掩膜去除盲孔底部或者盲孔底部和侧壁下部的有机膜薄膜,暴露出种子层;6)利用暴露的种子层对盲孔进行填充。 |
地址 |
100871 北京市海淀区颐和园路5号 |