一种预测放射不良反应相关基因突变检测芯片

摘要

本发明公开了一种预测放射不良反应相关基因突变检测的芯片。该检测芯片包括承载基片和在基片上呈阵列式分布的多种基因探针，基因探针含有多个与放射不良反应相关基因突变位点的互补寡核苷酸序列。每个突变位点设计野生型和突变型两种探针，设计长度为17-22bp的探针。利用本发明的芯片，只需病人2毫升血液，便能够再3-4小时内迅速得到结果，并配合专用软件，向临床医生提供明确的建议。采用这一新的检测芯片，医生可以在病人放疗前前对放疗方案进行调整，大大减少了病人不必要的痛苦与经济负担。

主权项

一种预测放射不良反应相关基因突变检测芯片，包括固相基片和点载在固相基片上的基因探针阵列，其特征在于，所述基因探针含有与放射不良反应相关基因突变位点的互补寡核苷酸序列；所述不良反应相关基因突变位点是TGFB1 rs1800469，SOD2 rs4880，XRCC1 rs25487，XRCC3 rs861539，ATM rs1801673，TP53 rs1042522和NOS3rs1799983。