| 发明名称 | 专利分析方法及系统 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种专利分析方法，包括：S10，设定进行专利分析的纵轴属性，并根据该属性查找相应的专利信息；S20，设定进行专利分析的横轴属性，并根据该属性查找相应的专利信息项目；S30，绘制由S10及S20设定的纵轴及横轴组成的表格，同时将自S10及S20步骤查找到的专利信息交集进行数量统计后输入该表格中，以方便用户的使用。 | ||
| 申请公布号 | CN103177010A | 申请公布日期 | 2013.06.26 |
| 申请号 | CN201110434908.X | 申请日期 | 2011.12.22 |
| 申请人 | 苏州威世博知识产权服务有限公司 | 发明人 | 罗才洋;罗万里 |
| 分类号 | G06F17/30(2006.01)I | 主分类号 | G06F17/30(2006.01)I |
| 代理机构 | 苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙) 32235 | 代理人 | 杨林洁 |
| 主权项 | 一种专利分析方法，其特征在于，所述方法包括：S10，设定进行专利分析的纵轴属性，并根据该属性查找相应的专利信息；S20，设定进行专利分析的横轴属性，并根据该属性查找相应的专利信息项目；S30，绘制由S10及S20设定的纵轴及横轴组成的表格，同时将自S10及S20步骤查找到的专利信息交集进行数量统计后输入该表格中。 | ||
| 地址 | 215021 江苏省苏州市苏州工业园区金鸡湖大道1355号国际科技园内A0207-1单元 | ||