发明名称 |
一种射频SIM卡的测试系统及方法 |
摘要 |
本发明涉及一种射频SIM卡的测试系统及方法。其中,射频SIM卡的测试系统包括:屏蔽装置,用于容纳射频SIM卡,屏蔽测试过程中外界信号对所述射频SIM卡的干扰;测试装置,用于对所述射频SIM卡进行测试;通信终端,用于为所述射频SIM卡和所述测试装置供电,控制所述射频SIM卡,以及显示测试结果;读卡装置,用于连接所述通信终端和所述射频SIM卡。本发明的射频SIM卡的测试系统及方法,能够屏蔽测试过程中外界信号的干扰,提高了测试结果的可靠性。并且,本发明的射频SIM卡的测试系统中的各个装置价格低廉,不需要频谱仪等昂贵测试设备,因此降低了射频SIM卡的测试成本。再者,本发明的射频SIM卡的测试系统,测试操作简单,适用于量产测试。 |
申请公布号 |
CN103179590A |
申请公布日期 |
2013.06.26 |
申请号 |
CN201110437873.5 |
申请日期 |
2011.12.23 |
申请人 |
国民技术股份有限公司 |
发明人 |
段星恒 |
分类号 |
H04W24/00(2009.01)I |
主分类号 |
H04W24/00(2009.01)I |
代理机构 |
北京轻创知识产权代理有限公司 11212 |
代理人 |
杨立 |
主权项 |
一种射频SIM卡的测试系统,其特征在于,包括:屏蔽装置,用于容纳射频SIM卡,屏蔽测试过程中外界信号对所述射频SIM卡的干扰;测试装置,用于对所述射频SIM卡进行测试;通信终端,用于为所述射频SIM卡和所述测试装置供电,控制所述射频SIM卡,以及显示测试结果;读卡装置,用于连接所述通信终端和所述射频SIM卡。 |
地址 |
518057 广东省深圳市南山区高新技术产业园区深圳软件园3栋301、302 |