发明名称 一种射频SIM卡的测试系统及方法
摘要 本发明涉及一种射频SIM卡的测试系统及方法。其中,射频SIM卡的测试系统包括:屏蔽装置,用于容纳射频SIM卡,屏蔽测试过程中外界信号对所述射频SIM卡的干扰;测试装置,用于对所述射频SIM卡进行测试;通信终端,用于为所述射频SIM卡和所述测试装置供电,控制所述射频SIM卡,以及显示测试结果;读卡装置,用于连接所述通信终端和所述射频SIM卡。本发明的射频SIM卡的测试系统及方法,能够屏蔽测试过程中外界信号的干扰,提高了测试结果的可靠性。并且,本发明的射频SIM卡的测试系统中的各个装置价格低廉,不需要频谱仪等昂贵测试设备,因此降低了射频SIM卡的测试成本。再者,本发明的射频SIM卡的测试系统,测试操作简单,适用于量产测试。
申请公布号 CN103179590A 申请公布日期 2013.06.26
申请号 CN201110437873.5 申请日期 2011.12.23
申请人 国民技术股份有限公司 发明人 段星恒
分类号 H04W24/00(2009.01)I 主分类号 H04W24/00(2009.01)I
代理机构 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 代理人 杨立
主权项 一种射频SIM卡的测试系统,其特征在于,包括:屏蔽装置,用于容纳射频SIM卡,屏蔽测试过程中外界信号对所述射频SIM卡的干扰;测试装置,用于对所述射频SIM卡进行测试;通信终端,用于为所述射频SIM卡和所述测试装置供电,控制所述射频SIM卡,以及显示测试结果;读卡装置,用于连接所述通信终端和所述射频SIM卡。
地址 518057 广东省深圳市南山区高新技术产业园区深圳软件园3栋301、302