发明名称 | 专用于掠入射XAFS实验的装置及其调整方法 | ||
摘要 | 公开了一种专用于掠入射XAFS实验的装置及其调整方法,其中该装置包括:用于产生掠入射XAFS实验所需的X射线的装置;前狭缝,限定X射线的尺寸;第一升降台,使前狭缝在垂直方向上升降;样品架,承载样品;旋转台,使得样品架上的样品转动,以获得所需的X射线掠入射角度;第二升降台,使得旋转台在垂直方向上升降;后狭缝,限定全反射X射线的尺寸;第三升降台,使得所述后狭缝在垂直方向上升降;第一探测器,探测从样品发出的荧光信号;第二探测器,探测全反射X射线信号。采用该装置及方法,能够快速精确地设定样品初始位置,而且能够精确地调整样品角度,并以高信噪比获取样品的实验探测数据,获得高质量的掠入射XAFS实验谱。 | ||
申请公布号 | CN103175857A | 申请公布日期 | 2013.06.26 |
申请号 | CN201310081613.8 | 申请日期 | 2013.03.14 |
申请人 | 中国科学院高能物理研究所 | 发明人 | 谢亚宁;张静;张久昶;宋冬燕 |
分类号 | G01N23/223(2006.01)I | 主分类号 | G01N23/223(2006.01)I |
代理机构 | 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 | 代理人 | 石海霞;郑特强 |
主权项 | 一种专用于掠入射XAFS实验的装置,包括:用于产生所述掠入射XAFS实验所需的X射线的装置;前狭缝,用于限定所述用于产生所述掠入射XAFS实验所需的X射线的装置发出的X射线的尺寸;第一升降台,用于安装所述前狭缝,并使所述前狭缝在与所述X射线的光轴方向垂直的方向上升降;样品架,用于承载样品,所述样品的表面与从所述前狭缝出射的X射线相互作用;旋转台,用于安装所述样品架,并使得所述样品架上的样品转动,以获得所需的X射线掠入射角度;第二升降台,用于安装所述旋转台,并使得所述旋转台在与所述X射线的光轴方向垂直的方向上升降;后狭缝,用于限定与所述样品的表面相互作用后的全反射X射线的尺寸;第三升降台,用于安装所述后狭缝,并使得所述后狭缝在与所述X射线垂直的方向上升降;基座升降部,用于安装所述第一升降台、所述第二升降台和所述第三升降台,使得所述第一升降台、第二升降台和所述第三升降台同时在与所述X射线的光轴方向垂直的方向上升降;第一探测器,用于探测从所述样品发出的荧光信号;第二探测器,用于探测从所述后狭缝出射的X射线信号。 | ||
地址 | 100049 北京市石景山区玉泉路19号乙院 |