发明名称 | 测量加速器能量的方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种测量加速器能量的方法,该方法包括如下步骤:测量步骤:测量加速器发出的X射线的衰减倍数随屏蔽材料厚度变化的测量曲线,比较步骤:将测得的测量曲线与参考曲线进行比较,由此确定加速器发出的X射线的能量。该方法可以精确地判断出该电子加速器发射出的X射线束的实际能量。该方法不受加速器限束条件限制,而且成本低、操作简单、数据直观、精度高,由人为因素带来的误差很小,不仅可广泛适用于核技术应用领域中各类加速器的生产、调试、验收中的质量控制,而且还可以指导工作人员进行加速器的精确调试。 | ||
申请公布号 | CN102109605B | 申请公布日期 | 2013.06.26 |
申请号 | CN200910243772.7 | 申请日期 | 2009.12.24 |
申请人 | 同方威视技术股份有限公司 | 发明人 | 邓艳丽;朱国平;苗齐田;王兵;曹艳锋;明申金 |
分类号 | G01T1/02(2006.01)I | 主分类号 | G01T1/02(2006.01)I |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 张成新 |
主权项 | 一种测量加速器能量的方法,包括如下步骤:测量步骤:测量加速器发出的X射线的衰减倍数随屏蔽材料厚度变化的测量曲线,比较步骤:将测得的测量曲线与参考曲线进行比较,由此确定加速器发出的X射线的能量,所述测量步骤包括:从没有屏蔽材料,即屏蔽材料的厚度为零,开始依次增加屏蔽材料的厚度,并测量没有屏蔽材料的X射线的剂量和穿过不同厚度的屏蔽材料的X射线的剂量,并且同时测量直接从加速器发出的X射线的剂量,通过直接从加速器发出的X射线的剂量,修正测得的穿过不同厚度的屏蔽材料的X射线的剂量,其中在测量步骤中,加速器的靶点与用于测量X射线剂量的剂量探测器之间的间距为0.5~12.0m,其中在测量步骤中,所述剂量探测器与所述屏蔽材料之间的间距大于10cm,其中在测量步骤中,剂量波动监测探测器置于加速器出口主束上,没有屏蔽材料时剂量波动监测探测器的读数为Dom,在第i次递增屏蔽材料的厚度时剂量波动监测探测器的读数为Dim,所述衰减倍数通过与Dim/Dom相乘而被修正,i等于1、2、3...的正整数。 | ||
地址 | 100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 |