半导体测试探针

摘要

一种半导体测试探针，系用以导接一待测电路板及一测试装置中的检测电路板，其包含：一导电杆体，二端分别为连结端以及用以接触待测电路板的检测端。一柱状弹簧，一端连接导电杆体的连结端，另一端用以抵接检测电路板。一导线沿柱状弹簧设置，其中一端电性连接导电杆体，另一端用以导接检测电路板。