发明名称 测量装置、并列测量装置、测试装置以及被测试元件
摘要 本发明提供一种测量装置,为一种对被测量信号进行测量的测量装置,包括:第1振荡电路,其输入被测量信号的一个脉冲,并依据被测量信号的脉冲而开始振荡,且输出第1振荡信号;第2振荡电路,其输入基准信号的一个脉冲,并依据基准信号的脉冲而开始振荡,且输出与第1振荡信号周期不同的第2振荡信号;以及第1采样部,其依据第2振荡信号的脉冲,而对第1振荡信号进行采样。第1振荡电路及第2振荡电路具有选择一个脉冲的控制部、使脉冲延迟的延迟部以及将脉冲反馈到延迟部的输入之环形路径。
申请公布号 TWI399562 申请公布日期 2013.06.21
申请号 TW098109984 申请日期 2009.03.26
申请人 爱德万测试股份有限公司 日本 发明人 山本和弘;冈安俊幸
分类号 G01R31/319;G01R31/28 主分类号 G01R31/319
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项
地址 日本