发明名称 测试装置与测试方法
摘要 一种测试装置与测试方法,利用单一的同步模组所生成的同步讯号,而使动作频率不同的多个测试模组同步。该测试装置包括:同步模组,以具有基准频率的基准时脉来动作并生成规定周期的同步讯号;以及测试模组,其以基准频率的n倍频率的高频时脉来动作,并根据与同步讯号同步的测试周期讯号而对被测试元件作测试。测试模组包括:周期仿真器,其仿效同步讯号;相位移相器,使高频时脉的相位只位移了所仿效的同步讯号的相位数据和n的乘数除以基准时脉的周期所得之位移级数;以及测试周期生成部,其生成测试周期脉冲讯号及测试周期相位数据。
申请公布号 TWI399558 申请公布日期 2013.06.21
申请号 TW098127494 申请日期 2009.08.14
申请人 爱德万测试股份有限公司 日本 发明人 秋田德则
分类号 G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项
地址 日本