发明名称 |
液晶面板线缺陷自动检测方法 |
摘要 |
一种液晶面板线缺陷自动检测方法,其步骤具有:开始、载入待测面板、电性连接点灯垫片、是否具有线缺陷、执行细定位、确认待测面板之线缺陷、数据转换、判断缺陷位置与是否为真缺陷或假缺陷,该方法系藉由输入多种待测面板之基本资料,使其得以应用且测试各家厂商所生产之不同规格的面板,并且能于测试过程中找出毁损的边导线连接区,该方法亦能于测试过程中降低其经营成本与避免损伤待测面板。 |
申请公布号 |
TWI399555 |
申请公布日期 |
2013.06.21 |
申请号 |
TW100104849 |
申请日期 |
2011.02.15 |
申请人 |
均豪精密工业股份有限公司 新竹县宝山乡新竹科学工业园区创新一路5之1号4楼 |
发明人 |
李茂杉;吴政鸿;黄国明;卢道诚;吴松霖 |
分类号 |
G01R31/02;G02F1/1362 |
主分类号 |
G01R31/02 |
代理机构 |
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代理人 |
林坤成 台北市信义区松德路171号2楼;谢金原 台北市信义区松德路171号2楼 |
主权项 |
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地址 |
新竹县宝山乡新竹科学工业园区创新一路5之1号4楼 |