发明名称 MESURE PAR INTERFEROMETRIE ATOMIQUE
摘要 <p>Une mesure par interférométrie atomique utilise une source Raman qui est réalisée en modulant une source laser monochromatique. En sélectionnant convenablement des positions (P , P , P ) auxquelles sont provoquées des interactions entre des atomes et un rayonnement laser produit par la source Raman, il est possible d'annuler ou au moins de réduire un biais de mesure qui est causé par des composantes supplémentaires du rayonnement laser. Une telle mesure à biais annulé ou réduit peut être mise en oeuvre dans un capteur inertiel.</p>
申请公布号 FR2984491(A1) 申请公布日期 2013.06.21
申请号 FR20110061777 申请日期 2011.12.16
申请人 ONERA (OFFICE NATIONAL D'ETUDES ET DE RECHERCHES AEROSPATIALES) 发明人 BIDEL YANNICK;ZAHZAM NASSIM;BRESSON ALEXANDRE
分类号 G01J3/44 主分类号 G01J3/44
代理机构 代理人
主权项
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