利用体视显微镜与面光源结合获取细集料几何特性的方法

摘要

利用体视显微镜与面光源结合获取细集料几何特性的方法，它涉及一种利用数字图像技术获取细集料几何特性的方法。本发明解决了现有方法所存在的测量范围窄和测量精度低的技术问题。本方法如下：将所测细集料水洗并筛分；采用体视显微镜，用面光源作为背景，在不同分辨率下获取不同粒径的细集料颗粒图像；最后用专业图像处理软件Image-Pro Plus对图像进行处理，获取细集料颗粒几何特性的量化值。本发明方法测量范围广且测量精度高：能精确测量2.36mm、1.18mm和0.6mm细集料颗粒的形状、棱角和纹理特性。

主权项

利用体视显微镜与面光源结合获取细集料几何特性的方法，其特征在于利用体视显微镜与面光源结合获取细集料几何特性的方法按照以下步骤进行：一、将所测细集料采用水洗的方法除去粒径小于0.075mm的粉尘部分，并将所测细集料进行筛分，得到粒径为2.36‑4.75mm、1.18‑2.36mm和0.6‑1.18mm的细集料颗粒；二、采用体视显微镜，用面光源作为背景，将步骤一得到的粒径为2.36‑4.75mm、1.18‑2.36mm和0.6‑1.18mm的细集料颗粒放在面光源上，然后在高分辨率为0.012mm/pixel、低分辨率为0.06mm/pixel的条件下获取粒径为2.36‑4.75mm的细集料颗粒图像；在高分辨率为0.006mm/pixel、低分辨率为0.03mm/pixel的条件下获取粒径为1.18‑2.36mm的细集料颗粒图像；在高分辨率为0.003mm/pixel、低分辨率为0.015mm/pixel的条件下获取粒径为0.6‑1.18mm的细集料颗粒图像；三、将步骤二所得的细集料颗粒图像用专业图像处理软件Image‑Pro Plus进行处理，获取细集料颗粒几何特性的量化值。