发明名称 一种集成电路测试数据查询系统
摘要 本实用新型提出一种集成电路测试数据查询系统,包括一查询设备、一与所述查询设备相连的测试仪阵列、一与所述测试仪阵列相连的测试机台阵列、一与所述测试机台阵列相连的被测器件阵列。本实用新型解决了查询设备和测试仪之间的布线问题,可使用远程控制,使得测试更为高效便捷,并可采用一台控制设备控制多个测试仪,提高测试的效率。
申请公布号 CN203012716U 申请公布日期 2013.06.19
申请号 CN201220486924.3 申请日期 2012.09.23
申请人 成都市中州半导体科技有限公司 发明人 徐正元
分类号 G06F17/30(2006.01)I 主分类号 G06F17/30(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种集成电路测试数据查询系统,其特征在于:所述集成电路测试系统数据查询系统包括一查询设备、一与所述查询设备相连的带无线通讯模块的测试仪阵列、一与所述测试仪阵列相连的测试机台阵列、一与所述测试机台阵列相连的被测器件阵列,所述带无线通讯模块的测试仪阵列包括N个带无线通讯模块的测试仪,所述测试机台阵列包括N个测试机台,所述被测器件阵列包括N个被测器件,其中N≥1,所述带无线通讯模块的测试仪、所述测试机台、所述被测器件一一对应串行连接。
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