发明名称 | 一种集成电路测试数据查询系统 | ||
摘要 | 本实用新型提出一种集成电路测试数据查询系统,包括一查询设备、一与所述查询设备相连的测试仪阵列、一与所述测试仪阵列相连的测试机台阵列、一与所述测试机台阵列相连的被测器件阵列。本实用新型解决了查询设备和测试仪之间的布线问题,可使用远程控制,使得测试更为高效便捷,并可采用一台控制设备控制多个测试仪,提高测试的效率。 | ||
申请公布号 | CN203012716U | 申请公布日期 | 2013.06.19 |
申请号 | CN201220486924.3 | 申请日期 | 2012.09.23 |
申请人 | 成都市中州半导体科技有限公司 | 发明人 | 徐正元 |
分类号 | G06F17/30(2006.01)I | 主分类号 | G06F17/30(2006.01)I |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | 一种集成电路测试数据查询系统,其特征在于:所述集成电路测试系统数据查询系统包括一查询设备、一与所述查询设备相连的带无线通讯模块的测试仪阵列、一与所述测试仪阵列相连的测试机台阵列、一与所述测试机台阵列相连的被测器件阵列,所述带无线通讯模块的测试仪阵列包括N个带无线通讯模块的测试仪,所述测试机台阵列包括N个测试机台,所述被测器件阵列包括N个被测器件,其中N≥1,所述带无线通讯模块的测试仪、所述测试机台、所述被测器件一一对应串行连接。 | ||
地址 | 611731 四川省成都市高新区西芯大道4号 |