材料法向发射比测试系统

摘要

一种材料法向发射比测试系统，包括冷、热水箱，冷、热水循环管路，PID调节数显温控仪，置于热水箱内的循环泵Ⅰ、温度传感器Ⅰ和电加热器Ⅰ、黑体腔和材料试验腔，置于冷水箱内的循环泵Ⅱ、温度传感器Ⅱ、电加热器Ⅱ，温度传感器Ⅰ、温度传感器Ⅱ、电加热器Ⅰ及电加热器Ⅱ分别与PID调节数显温控仪相连，其特殊之处是：在冷水箱内设有半导体制冷器和零点校正腔，在冷水箱外设有与冷水箱相通的腔座，在腔座内放置有红外测试腔，红外测试腔底面置有与PID调节数显温控仪的信号输入端相连的红外测温元件，所述半导体制冷器与PID调节数显温控仪的信号输出端相连。优点是：成本低，体积小，能耗低，反应灵敏，误差小，测试数据准确度高，适用于小型循环设备。

主权项

一种材料法向发射比测试系统，包括热水箱，位于热水箱下面的冷水箱，连通热水箱的热水循环管路和连通冷水箱的冷水循环管路， PID调节数显温控仪，置于热水箱内的循环泵Ⅰ、温度传感器Ⅰ和电加热器Ⅰ、黑体腔和材料试验腔，置于冷水箱内的循环泵Ⅱ、温度传感器Ⅱ、电加热器Ⅱ，所述温度传感器Ⅰ、温度传感器Ⅱ分别与PID调节数显温控仪的信号输入端相连，PID调节数显温控仪的输出端分别与电加热器Ⅰ及电加热器Ⅱ相连，冷水箱和热水箱上设有上水管路和溢流排水管路，其特征是：在冷水箱内设有半导体制冷器和零点校正腔，在冷水箱外设有与冷水箱相通的腔座，在腔座内放置有红外测试腔，红外测试腔底面置有与PID调节数显温控仪的信号输入端相连的红外测温元件，所述半导体制冷器与PID调节数显温控仪的信号输出端相连。