发明名称 LED批量抗静电测试基座
摘要 本发明提出了一种可提供统一测试环境的LED批量抗静电测试基座。通过利用它,可控制测试人员在批量样品静电测试中引入环境因素。该方法在恒温条件下,将待测元件通过基座接入静电测试系统。适用于人体模型,机械模型,TLP模型等各种静电检测终端。可排除测试过程中环境的光,热,静电等因素,有效的固定样品,保持测试的统一性。
申请公布号 CN103163491A 申请公布日期 2013.06.19
申请号 CN201110410827.6 申请日期 2011.12.12
申请人 上海北京大学微电子研究院;北京大学软件与微电子学院 发明人 严伟;袁晨;程玉华
分类号 G01R31/44(2006.01)I 主分类号 G01R31/44(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种可提供统一测试环境的LED批量抗静电测试基座,其特征在于:可调节,随意组合适应不同测试标准数量要求的基座连接结构。
地址 201203 上海市浦东新区盛夏路608号