发明名称 |
LED批量抗静电测试基座 |
摘要 |
本发明提出了一种可提供统一测试环境的LED批量抗静电测试基座。通过利用它,可控制测试人员在批量样品静电测试中引入环境因素。该方法在恒温条件下,将待测元件通过基座接入静电测试系统。适用于人体模型,机械模型,TLP模型等各种静电检测终端。可排除测试过程中环境的光,热,静电等因素,有效的固定样品,保持测试的统一性。 |
申请公布号 |
CN103163491A |
申请公布日期 |
2013.06.19 |
申请号 |
CN201110410827.6 |
申请日期 |
2011.12.12 |
申请人 |
上海北京大学微电子研究院;北京大学软件与微电子学院 |
发明人 |
严伟;袁晨;程玉华 |
分类号 |
G01R31/44(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/44(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种可提供统一测试环境的LED批量抗静电测试基座,其特征在于:可调节,随意组合适应不同测试标准数量要求的基座连接结构。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区盛夏路608号 |