发明名称 用于化学机械平坦化的修整工具和技术
摘要 用于修整化学机械平坦化(CMP)垫的工具,其包含基材,所述基材的至少一个表面上连接有研磨粒子。该工具可结合多种粒子,且可采用多种结合方式。例如,研磨粒子可结合(例如钎焊接或其他金属结合技术)到一侧,或者结合到前后两侧。或者,研磨粒子结合到前侧,而填料粒子连接到后侧。研磨粒子可形成一定图案(例如六方图案),其具有的粒径小到在修整过程中足以穿过CMP垫的孔,使得利用修整过的CMP垫抛光的晶片上形成较少的缺陷。颗粒结合到基材上可利用钎焊膜实现,但也可采用其他金属结合剂。此外,对结合材料进行平衡处理(例如在两侧均有钎焊料)可得到低不平整度值。
申请公布号 CN101563188B 申请公布日期 2013.06.19
申请号 CN200780039941.4 申请日期 2007.09.21
申请人 圣戈本磨料股份有限公司;圣戈本磨料公司 发明人 T·普萨纳甘达;黄太郁;S·拉马纳坦;E·舒尔策;J·G·巴尔多尼;S·布利简;C·迪恩-恩戈克
分类号 B24B53/017(2012.01)I;B24D18/00(2006.01)I 主分类号 B24B53/017(2012.01)I
代理机构 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人 章蕾
主权项 一种用于修整化学机械平坦化(CMP)垫的工具,其包括:具有第一侧和第二侧的支持件;以及多个研磨粒子,其通过金属结合剂连接到支持件第一侧和第二侧中的至少一侧上,且至少95重量%的研磨粒子独立地具有小于85微米的粒径;其中,该工具上研磨粒子的浓度大于4000个研磨粒子/英寸2(620个研磨粒子/厘米2),粒子间的间距使得小于5体积%的研磨粒子接触其他研磨粒子,多个狭缝沿第一侧和第二侧中的至少一侧的整个表面延伸。
地址 美国马萨诸塞州