发明名称 |
紫外或可见光光学系统参数的自动检测系统 |
摘要 |
本实用新型涉及一种紫外或可见光光学系统参数的自动检测系统,自动检测系统包括光源系统、目标系统、准直系统、显微摄像系统、控制系统、数据处理单元以及显示单元;目标系统、准直系统以及显微摄像系统依次设置在光源系统的出射光路上;待测光学系统设置在准直系统以及显微摄像系统之间;控制系统分别与显微摄像系统、光源系统、数据处理单元以及显示单元相连。本实用新型提供了一种可同时完成对光学系统畸变及弥散斑直径的自动测量、可有效提高工作效率以及可剔除由人为因素引入的测量误差的紫外或可见光光学系统参数的自动检测系统。 |
申请公布号 |
CN203011676U |
申请公布日期 |
2013.06.19 |
申请号 |
CN201220685821.X |
申请日期 |
2012.12.12 |
申请人 |
中国科学院西安光学精密机械研究所 |
发明人 |
薛勋;龙江波;赵建科;刘峰;赛建刚;张洁;胡丹丹 |
分类号 |
G01M11/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01M11/02(2006.01)I |
代理机构 |
西安智邦专利商标代理有限公司 61211 |
代理人 |
姚敏杰 |
主权项 |
一种紫外或可见光光学系统参数的自动检测系统,其特征在于:所述紫外或可见光光学系统参数的自动检测系统包括光源系统、目标系统、准直系统、显微摄像系统、控制系统、数据处理单元以及显示单元;所述目标系统、准直系统以及显微摄像系统依次设置在光源系统的出射光路上;待测光学系统设置在准直系统以及显微摄像系统之间;所述控制系统分别与显微摄像系统、光源系统、数据处理单元以及显示单元相连。 |
地址 |
710119 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号 |