发明名称 测量装置
摘要 一种测量装置,包括有支架及滑动架,所述支架及滑动架设有用以测量高度的刻度线,所述滑动架滑动固定在所述支架中,所述测量装置还包括有固定结构及驱动结构,所述固定结构包括有固定件及设在所述固定件上的弹性件,所述驱动结构包括有把手及固定在所述把手上的齿轮,所述驱动结构转动固定在所述支架上,所述齿轮在相对所述支架转动的过程中驱使所述滑动架相对所述支架滑动,所述固定件固定在所述支架上,所述弹性件固定在所述支架与所述滑动架之间,防止所述滑动架相对所述支架滑动。
申请公布号 CN103162672A 申请公布日期 2013.06.19
申请号 CN201110420309.2 申请日期 2011.12.15
申请人 鸿富锦精密工业(武汉)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 发明人 易文明;胡从旭;刘小利;刘玉林
分类号 G01C15/00(2006.01)I;G01C15/02(2006.01)I 主分类号 G01C15/00(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种测量装置,包括有支架及滑动架,其特征在于:所述支架及滑动架设有用以测量高度的刻度线,所述滑动架滑动固定在所述支架中,所述测量装置还包括有固定结构及驱动结构,所述固定结构包括有固定件及设在所述固定件上的弹性件,所述驱动结构包括有把手及固定在所述把手上的齿轮,所述驱动结构转动固定在所述支架上,所述齿轮在相对所述支架转动的过程中驱使所述滑动架相对所述支架滑动,所述固定件固定在所述支架上,所述弹性件固定在所述支架与所述滑动架之间,防止所述滑动架相对所述支架滑动。
地址 430205 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷二路特一号富士康科技园