发明名称 一种相似材料模型变形的光学图像监测方法
摘要 本发明涉及一种相似材料模型变形的光学图像监测方法,监测方法的具体步骤为,将相似材料模型嵌放在相似材料模型架上,并将一系列发光二极管装到相似材料模型上;在相似材料模型架后面放置一个贴有白纸的光屏,在光屏上贴有同心圆控制点;把聚光镜装在聚光镜支架上;在相似材料模型架上面放置摄像机支架,再在摄像机支架上架设摄像机;使用数据线将摄像机与电脑连接;电脑中处理程序对图像进行识别提取,从而获得光斑的位置及位移量。该监测方法可以通过常规数码照相、聚光镜放大成像和图像处理技术来实现全自动高精度实时地监测,并可以及时获取试验过程的监测数据,获取的数据更加精确,不需要人为干预,节省了大量人力和时间。
申请公布号 CN103162638A 申请公布日期 2013.06.19
申请号 CN201310109220.3 申请日期 2013.04.01
申请人 中国矿业大学 发明人 朱晓峻;郭广礼;查剑锋;郭庆彪;钱志;彭克祥
分类号 G01B11/16(2006.01)I 主分类号 G01B11/16(2006.01)I
代理机构 南京知识律师事务所 32207 代理人 高桂珍
主权项 一种相似材料模型变形的光学图像监测方法,其特征在于,该监测方法的具体步骤为,将相似材料模型(10)嵌放在相似材料模型架(9)上,并将一系列发光二极管(5)装到相似材料模型(10)上;在相似材料模型架(9)后面放置一个贴有白纸的光屏(12),在光屏(12)上贴有同心圆控制点(8);把聚光镜(6)装在聚光镜支架(7)上,调节聚光镜(6)与相似材料模型(10)的距离为5cm‑15cm,并使发光二级管(5)投射在光屏(12)的光斑聚焦清晰;在相似材料模型架(9)上面放置摄像机支架(2),再在摄像机支架(2)上架设摄像机(3),通过调节摄像机支架(2)使摄像机(3)正对光屏;使用数据线(1)将摄像机(3)与电脑连接,从而使摄像机(3)中图像实时传送到电脑中处理;电脑中处理程序对图像进行识别提取,从而获得光斑的位置及位移量。
地址 221000 江苏省徐州市中国矿业大学南湖校区环测学院B402