发明名称 四光幕精度靶结构调校与参数测量方法
摘要 本发明涉及一种四光幕精度靶的结构调校与参数测量方法。现有四光幕精度靶在安装和实际使用中存在的因结构参数不准确而导致测量误差大的问题。本发明采用的技术方案包括如下步骤:(1)调节发射与接收装置的激光瞄准器使其光斑相互重合;(2)调节光幕Ⅰ、光幕Ⅱ和光幕Ⅳ与水平面铅垂;调节光幕Ⅰ与光幕Ⅳ平行;(3)调节光幕Ⅰ与光幕Ⅱ,测量与X有关的角度<img file="DEST_PATH_IMAGE002.GIF" wi="16" he="16" />,调节调节光幕Ⅰ与光幕Ⅲ,测量与Y有关的角度<img file="DEST_PATH_IMAGE004.GIF" wi="17" he="22" />。本发明由于采用两台激光水准仪构建虚拟基准平面,避免了在机械结构即六面体支撑机构上设置基准或构建外部三个相互垂直的基准平面,从而放宽了六面体支撑机构的加工和安装精度要求;本发明方法测量的结构参数准确,避免了测量误差。
申请公布号 CN102192682B 申请公布日期 2013.06.19
申请号 CN201110099209.4 申请日期 2011.04.20
申请人 西安工业大学 发明人 安莹;倪晋平;冯斌;高芬;鲁倩;武志超;孟祥众
分类号 F41J5/02(2006.01)I 主分类号 F41J5/02(2006.01)I
代理机构 西安新思维专利商标事务所有限公司 61114 代理人 黄秦芳
主权项 1.一种四光幕精度靶的结构调校与参数测量方法,其特征在于:包括如下步骤:(1) 在形成光幕的光幕靶的发射装置与接收装置的上下两端分别安装瞄准激光器,激光器发出的光束为直线,其截面近似为圆;调节发射装置与接收装置使两对瞄准激光器的光斑相互重合;(2) 在光幕Ⅰ与光幕Ⅳ的发射装置与接收装置间放置竖直平板,通过激光水准仪作为基准调节竖直平板与水平面垂直,将光幕Ⅰ和光幕Ⅳ投影在平板上,在竖直平板上显示四个光斑,以竖直平板的一边为转动轴,使其旋转,当竖直平板上面或下面两个光斑之间的距离最小时,记录该最小值;再将竖直平板向前或向后移动一定距离,重复上述方法,记录最小值,直至两次测量得的最小值相等,则说明此时的光幕Ⅰ和光幕Ⅳ平行,该最小值即为光幕Ⅰ和光幕Ⅳ之间的距离<img file="2011100992094100001DEST_PATH_IMAGE001.GIF" wi="16" he="20" />;(3) 在光幕Ⅰ与光幕Ⅱ的发射装置与接收装置间悬挂竖直平板并调节使其铅垂并与光幕Ⅰ和光幕Ⅳ垂直,将光幕Ⅰ和光幕Ⅱ投影在竖直平板上,将竖直平板向前或向后平移一定距离,通过移动前与移动后平板上面两个光斑之间距离的差值与平板移动的距离的比值求光幕Ⅱ与<img file="235943DEST_PATH_IMAGE002.GIF" wi="20" he="18" />方向的夹角<img file="2011100992094100001DEST_PATH_IMAGE003.GIF" wi="17" he="16" />;在光幕Ⅰ与光幕Ⅲ的发射装置与接收装置间悬挂竖直平板并调节使其铅垂并与光幕Ⅰ和光幕Ⅳ垂直,将光幕Ⅰ和光幕Ⅲ投影在竖直平板上,将竖直平板向前或向后平移一定距离,使移动前与移动后平板上面两个光斑之间距离相等,通过上面两个光斑之间距离与下面两个光斑之间距离的差值和平板同一侧上下两个光斑之间的距离的比值求光幕Ⅲ与<img file="90767DEST_PATH_IMAGE004.GIF" wi="16" he="18" />方向的夹角<img file="2011100992094100001DEST_PATH_IMAGE005.GIF" wi="17" he="22" />。
地址 710032 陕西省西安市金花北路4号