发明名称 |
高纯钽中痕量杂质的测定方法 |
摘要 |
本发明涉及一种高纯钽中多个痕量杂质的测定方法,其步骤包括(1)配制钽样品溶液,其中钽样品含量为1~5g/L,HF为1~5vol%,硝酸为0.3~0.8vol%;(2)连接离子色谱、膜去溶装置和ICP-MS三装置,将制备好的样品溶液由浓缩泵泵入离子色谱的阳离子交换柱5分钟,杂质元素形成的阳离子吸附在交换柱,而基体钽形成的TaF72-或TaOF52-流经柱子不上柱,用氢氟酸淋洗交换柱,将柱子上残留的基体淋洗干净,启动联机工作程序,用硝酸洗脱吸附在阳离子交换柱(磺酸型阳离子交换柱)上的杂质,随同试样做空白试验。本方法干扰少、精度好,并且能满足多个痕量杂质的同时检测,避免了多次操作引入的误差。 |
申请公布号 |
CN102565206B |
申请公布日期 |
2013.06.19 |
申请号 |
CN201010597964.0 |
申请日期 |
2010.12.21 |
申请人 |
北京有色金属研究总院 |
发明人 |
李艳芬;童坚;刘英;张卓;佟伶;李满芝 |
分类号 |
G01N30/02(2006.01)I;G01N30/86(2006.01)I |
主分类号 |
G01N30/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 |
代理人 |
耿小强 |
主权项 |
一种高纯钽中多个痕量杂质的测定方法,其步骤如下:(1)配制钽样品溶液,其中钽样品含量为1~5g/L,氢氟酸为1~5vol%,硝酸为0.3~0.8vol%;(2)连接离子色谱、膜去溶装置和ICP‑MS三装置,将制备好的样品溶液100ml由浓缩泵泵入离子色谱的阳离子交换柱5min,杂质元素形成的阳离子吸附在交换柱,而基体钽形成的TaF72‑或TaOF52‑流经柱子不上柱,用氢氟酸淋洗交换柱,将柱子上残留的基体淋洗干净,启动联机工作程序,用硝酸洗脱吸附在阳离子交换柱上的杂质,随同试样做空白试验。 |
地址 |
100088 北京市西城区新街口外大街2号 |