发明名称 |
测试电子装置的功能的测试方法以及测试装置 |
摘要 |
本发明涉及一种测试方法,用以测试一电子装置中的一功能,包含:(a)寻找相对应欲测试该功能的一位置;(b)根据该位置传送一指令来执行该功能;以及(c)根据该功能对于该指令的回应来判断该功能是否有误。 |
申请公布号 |
CN103167076A |
申请公布日期 |
2013.06.19 |
申请号 |
CN201110409085.5 |
申请日期 |
2011.12.09 |
申请人 |
晨星软件研发(深圳)有限公司;晨星半导体股份有限公司 |
发明人 |
林益丞;林圣斌;谢其璋;高伟峻 |
分类号 |
H04M1/24(2006.01)I |
主分类号 |
H04M1/24(2006.01)I |
代理机构 |
上海专利商标事务所有限公司 31100 |
代理人 |
陈亮 |
主权项 |
一种测试方法,用以测试一电子装置中一程序所包含的一功能,该程序将该功能相关于一使用者介面的一图符,该测试方法包含:(a)寻找所欲测试该功能于该程序的一位置;(b)根据该位置传送一指令来执行该功能;以及(c)根据该功能对于该指令的回应来判断该功能是否有误;其中,该指令包含对应于一使用者于该使用者介面移至该图符的一子指令。 |
地址 |
518057 广东省深圳市高新区南区科技南十路深圳航天科技创新研究院C座4楼 |