发明名称 测试电子装置的功能的测试方法以及测试装置
摘要 本发明涉及一种测试方法,用以测试一电子装置中的一功能,包含:(a)寻找相对应欲测试该功能的一位置;(b)根据该位置传送一指令来执行该功能;以及(c)根据该功能对于该指令的回应来判断该功能是否有误。
申请公布号 CN103167076A 申请公布日期 2013.06.19
申请号 CN201110409085.5 申请日期 2011.12.09
申请人 晨星软件研发(深圳)有限公司;晨星半导体股份有限公司 发明人 林益丞;林圣斌;谢其璋;高伟峻
分类号 H04M1/24(2006.01)I 主分类号 H04M1/24(2006.01)I
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人 陈亮
主权项 一种测试方法,用以测试一电子装置中一程序所包含的一功能,该程序将该功能相关于一使用者介面的一图符,该测试方法包含:(a)寻找所欲测试该功能于该程序的一位置;(b)根据该位置传送一指令来执行该功能;以及(c)根据该功能对于该指令的回应来判断该功能是否有误;其中,该指令包含对应于一使用者于该使用者介面移至该图符的一子指令。
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