Verfahren und Referenzmodell zur Überprüfung eines Vermessungssystems

摘要

Die Erfindung betrifft ein Referenzobjekt (3) und ein Verfahren zur Überprüfung eines Vermessungssystems (1), wobei mehrere dreidimensionale Aufnahmen (4, 8) mittels des Vermessungssystems (1) von einem Referenzobjekt aus unterschiedlichen Aufnahmerichtungen (5) aufgenommen werden. Das Referenzobjekt (3) weist eine geschlossene Form auf, wobei jede der dreidimensionalen Aufnahmen (4) mindestens mit der vorangehenden Aufnahme (4) registriert wird. Bei einer fehlerhaften Kalibrierung und/oder bei einer fehlerhaften Registrierung sind die einzelnen Aufnahmen (4, 8) im Vergleich zur tatsächlichen Form des Referenzobjekts (3) verformt, sodass sich beim Zusammensetzen der einzelnen dreidimensionalen Aufnahmen (4) zu einer Gesamtaufnahme (54) die Verformung fortsetzt und dadurch die erzeugte Gesamtaufnahme (54) in ihren Abmessungen von den Abmessungen des Referenzobjekts (3) abweicht. Mindestens ein Objektbereich (10) des Referenzobjekts (3) wird am Anfang eines Umlaufs und am Ende des Umlaufs doppelt vermessen, wobei ein Abstand (55) zwischen einer ersten Position des Objektbereichs (10) in einer ersten Aufnahme am Anfang des Umlaufs und einer zweiten Position des Objektbereichs (10) in einer zweiten Aufnahme am Ende des Umlaufs in der Gesamtaufnahme (54) bestimmt wird.