厚度测量系统

摘要

本发明提供一种厚度测量系统，其包括处理器和两个间隔设置的第一测距传感器和第二测距传感器，该厚度测量系统用于测量放置在传送带上经过所述第一测距传感器和第二测距传感器之间的平板零件的厚度，所述处理器用于控制所述第一测距传感器和第二测距传感器分别发射沿着平行于传送带方向的第一信号，所述第一信号经反射后返回该第一测距传感器和第二测距传感器，该第一测距传感器和第二测距传感器x相应计算出第一距离和第二距离，所述处理器还用于控制该第二测距传感器发射与所述第一信号的发射方向成预定角度的第二信号，所述第二信号经该平板的反射后回到第二测距传感器，所述第二测距传感器根据所述反射会的信号计算出第三距离。

主权项

一种厚度测量系统，其包括处理器和两个间隔设置的第一测距传感器和第二测距传感器，该厚度测量系统用于测量放置在传送带上经过所述第一测距传感器和第二测距传感器之间的平板零件的厚度，其特征在于：所述处理器用于控制所述第一测距传感器和第二测距传感器分别发射沿着平行于传送带方向的第一信号，所述第一信号经该平板零件的两侧反射后返回该第一测距传感器和第二测距传感器，该第一测距传感器和第二测距传感器根据上述返回的信号计算出第一距离和第二距离，所述处理器还用于控制该第二测距传感器发射与所述第一信号的发射方向成预定角度的第二信号，所述第二信号经该平板的反射后回到第二测距传感器，所述第二测距传感器根据所述反射会的信号计算出第三距离，所述处理器根据上述第一距离、第二距离、第三距离以及所述预定角度计算出该平板零件的厚度。