基于反卷积的双光路光谱测量装置

摘要

本发明涉及一种基于反卷积的双光路光谱测量装置，其特征在于该装置设置为双光路结构，一光路由目标物镜、狭缝、准直镜、分束镜、色散元件、第一汇聚镜头和第一CCD相机依次组成，另一光路由分束镜、第二汇聚镜头和CCD相机依次组成。本发明针对现有基于狭缝的光谱仪在弱光下探测能力受限的关键问题，采用一个更宽的狭缝来代替，以增加系统的光通过量，使其在弱光下有更好的探测能力，并通过计算未色散光的原像和色散后光的像的反卷积来获取光源光谱。本发明广泛应用于冶金、地质、化工、医药和环境等领域，特别适用于像生物医学、夜视等弱光场合，应用范围宽广。

主权项

基于反卷积的双光路光谱测量装置，其特征在于该装置设置为双光路结构，一光路由目标物镜（1）、狭缝（2）、准直镜（3）、分束镜（4）、色散元件（5）、第一汇聚镜头（6）和第一CCD相机（7）依次组成，另一光路由分束镜（4）、第二汇聚镜头（8）和第二CCD相机（9）依次组成；外部光源经目标物镜（1）汇聚到狭缝（2）上，狭缝（2）设置在目标物镜（1）和准直镜（3）的焦点上，通过狭缝（2）的光经过准直镜（3）后将变成平行光，当平行光入射到分束镜（4）上时，一部分光将发生反射并通过第二汇聚镜头（8）汇聚到第二CCD相机（9）上，形成未色散的原像；另一部分光透过分束镜（4），垂直入射到色散元件（5）上，经色散后的光被第一会聚镜头（6）汇聚到第一CCD相机（7）上形成色散后光的像，通过计算未色散光的原像和色散后光的像的反卷积来获取外部光源光谱。