发明名称 | 一种基于双折射光纤环境的轴向应变测量方法 | ||
摘要 | 本发明涉及一种基于双折射光纤环境的轴向应变测量方法,在构建现有双折射光纤环境轴向应变测量装置的基础上,通过选择最佳监测点测量轴向应变,不仅保证了应变的顺利测量,而且提高了应变的灵敏度。相对于通过结构创新方法提高应变灵敏度,此方法简单易行。 | ||
申请公布号 | CN103148794A | 申请公布日期 | 2013.06.12 |
申请号 | CN201310048782.1 | 申请日期 | 2013.02.07 |
申请人 | 南京航空航天大学 | 发明人 | 曾捷;江莺;张倩韵;周雅斌;梁大开 |
分类号 | G01B11/16(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/16(2006.01)I |
代理机构 | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人 | 许方 |
主权项 | 一种基于双折射光纤环境的轴向应变测量方法,包括如下步骤:步骤1.采用光纤耦合器、双折射光纤、光源和光谱仪构建双折射光纤环境轴向应变测量装置,其中,双折射光纤的两端分别与光纤耦合器的两个输出臂相连接,光源与光纤耦合器的输入臂相连接,光谱仪的输入端与光纤耦合器的另一个输出臂相连接;步骤2.将双折射光纤粘贴在被测物体上,通过光谱仪测量其干涉光谱;步骤3.在被测物体未受任何应变的情况下,即双折射光纤未受任何应变的情况下,在干涉光谱上,寻找波长最长的一个光功率峰值点,作为最佳监测点;步骤4. 对被测物体增加轴向应变,获取应变值与对应最佳监测点波长的数据,并对该数据线性回归拟合一次曲线方程;步骤5. 对该被测物体施加轴向应变,通过光谱仪读取最佳监测点的波长大小,并根据步骤4拟合的一次曲线方程,得到该被测物体此时的轴向应变。 | ||
地址 | 210016 江苏省南京市白下区御道街29号 |