发明名称 一种对InP衬底进行化学机械抛光的方法
摘要 本发明公开了一种对InP衬底进行化学机械抛光的方法,该方法包括:将InP衬底与UV粘膜键合,形成UV键合InP衬底;使用真空吸盘吸附该UV键合InP衬底,将该UV键合InP衬底需要CMP的表面垂直向下侵入CMP抛光浆液中进行CMP抛光;清洗抛光后的该UV键合InP衬底;以及将该UV键合InP衬底放入UV去胶机进行UV照射,去除UV粘膜。本发明采用了UV粘胶固定InP材料,采用改进的纳米聚四氟乙烯凝胶进行CMP抛光,采用N2喷射进行CMP搅拌,制作出的InP低厚度高精密抛光镜面效果,大大降低了传统CMP工艺的损伤效果。
申请公布号 CN103144023A 申请公布日期 2013.06.12
申请号 CN201310068591.1 申请日期 2013.03.05
申请人 中国科学院微电子研究所 发明人 汪宁;苏永波;金智
分类号 B24B37/04(2012.01)I 主分类号 B24B37/04(2012.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 任岩
主权项 一种对InP衬底进行化学机械抛光的方法,其特征在于,包括:将InP衬底与UV粘膜键合,形成UV键合InP衬底;使用真空吸盘吸附该UV键合InP衬底,将该UV键合InP衬底需要CMP的表面垂直向下侵入CMP抛光浆液中进行CMP抛光;清洗抛光后的该UV键合InP衬底;以及将该UV键合InP衬底放入UV去胶机进行UV照射,去除UV粘膜。
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