发明名称 | 多层筒体腐蚀孔洞类缺陷的RT定量检测方法 | ||
摘要 | 本发明涉及多层筒体检测方法。一种多层筒体腐蚀孔洞类缺陷的定量检测方法,它包括下列步骤,参照实物的材质和厚度制作试块,内部制造不同直径和深度的蝶形凹坑和贯穿孔缺陷;分别用Ir192γ射线和X射线对步骤一制作得试块进行透照,执行标准JB/T4730《承压设备无损检测》,底片质量A级以上,根据试验结果确认所采用的射线的透照工艺参数;确定缺陷定量评判标准,先用Ir192γ射线,采用确定的透照工艺参数对待测物进行检测,初步确定待测物缺陷位置;再用χ射线,采用确定的透照工艺参数对待测物进行检测,并利用缺陷定量评判标准定量判定缺陷达到层板的层数。本发明能定量准确判断腐蚀孔洞发展到第几层层板。 | ||
申请公布号 | CN103149223A | 申请公布日期 | 2013.06.12 |
申请号 | CN201110400434.7 | 申请日期 | 2011.12.06 |
申请人 | 上海宝钢工业检测公司 | 发明人 | 毛华群 |
分类号 | G01N23/04(2006.01)I | 主分类号 | G01N23/04(2006.01)I |
代理机构 | 上海天协和诚知识产权代理事务所 31216 | 代理人 | 张恒康 |
主权项 | 一种多层筒体腐蚀孔洞类缺陷的定量检测方法,其特征在于,它包括下列步骤:步骤一,参照实物的材质和厚度制作试块,内部制造不同直径和深度的蝶形凹坑和贯穿孔缺陷;步骤二,采用Ir192γ射线对它们进行透照,执行标准JB/T4730《承压设备无损检测》,底片质量达到A级以上,根据试验结果确定所采用的Ir192γ射线透照工艺参数;步骤三,用X射线对步骤一制作的试块进行透照,执行标准JB/T4730《承压设备无损检测》,底片质量A级以上,根据试验结果确认所采用的χ射线的透照工艺参数;步骤四,确定缺陷定量评判标准,评判标准如下表:黑度值D孔洞深度mm第几层板1.50.6不可辨识1.6111.71.511.7211.82.511.9313.11823.2303;步骤五,先用Ir192γ射线,采用步骤二确定的透照工艺参数对待测物进行检测,初步确定待测物缺陷位置;再用χ射线,采用步骤三确定的透照工艺参数对待测物进行检测,并利用步骤三的缺陷定量评判标准定量判定缺陷达到层板的层数。 | ||
地址 | 201900 上海市宝山区湄浦路335号 |