发明名称 |
一种基于紫外成像特征的绝缘子绝缘状态评估方法 |
摘要 |
本发明公开了一种基于紫外成像特征的绝缘子绝缘状态评估方法,包括以下具体步骤:采集数据和图像;导入计算机系统;去噪预处理,得到绝缘子放电紫外检测图片;计算出相对光斑直径RD数值;计算出绝缘子的相对闪络强度RF数值;判断绝缘状态;判断是否需要报警。本发明的有益效果是基于紫外成像特征——“相对光斑直径”的绝缘子绝缘状态评方法,克服了光子数参数在实际运用中存在一定的不足,避免了因检测的距离和仪器的增益对评估结果造成的不利影响,提高了绝缘子绝缘状态评估的准确性。 |
申请公布号 |
CN103149512A |
申请公布日期 |
2013.06.12 |
申请号 |
CN201310059207.1 |
申请日期 |
2013.02.25 |
申请人 |
国网电力科学研究院武汉南瑞有限责任公司;云南电力试验研究院(集团)有限公司电力研究院;国家电网公司 |
发明人 |
蔡炜;陈磊;邓鹤鸣;周仿荣;邓慰;马仪;徐肖伟;张恭源 |
分类号 |
G01R31/12(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/12(2006.01)I |
代理机构 |
武汉开元知识产权代理有限公司 42104 |
代理人 |
潘杰 |
主权项 |
一种基于紫外成像特征的绝缘子绝缘状态评估方法,其特征在于包括以下具体步骤:步骤1:利用日盲型紫外成像仪采集在线绝缘子的放电数据和图像;步骤2:将步骤1中采集得到的绝缘子放电数据和图像导入计算机系统;步骤3:对步骤2中导入计算机系统的绝缘子放电数据和图像进行去噪预处理,得到绝缘子放电紫外检测图片;步骤4:在步骤3中得到的绝缘子放电紫外检测图片上选取绝缘子放电光斑最大的区域,获取最大光斑面积直径Duv和绝缘子本体的伞裙直径Dil,定义相对光斑直径RD=Duv/Dil并计算出相对光斑直径RD数值;步骤5:在所述绝缘子的放电数据中选取施加在绝缘子上的实际的电压值U和绝缘子闪络时所对应的电压值Uf,定义绝缘子的相对闪络强度RF=U/Uf并计算出绝缘子的相对闪络强度RF数值;步骤6:根据上述相对闪络强度RF和相对光斑直径RD所处的数值范围,通过查询判断绝缘状态“好”、“较好”、“差”或“很差”;步骤7:若绝缘子的绝缘状态处于“好”或“较好”的状态时,无需预警;若绝缘子的绝缘状态处于“较差”时,需要预警;若绝缘子的绝缘状态处于“很差”状态时,马上报警,采取相应的措施,以防止污闪事故的发生。 |
地址 |
430074 湖北省武汉市洪山区珞瑜路143号 |