发明名称 | 相邻连线间的寄生电容参数估算方法和电路优化方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种相邻连线间的寄生电容参数估算方法和电路优化方法,在电路优化过程中应用相邻连线间的寄生电容参数估算方法。同时,在电路优化过程中把对所述电路物理版图中各个相邻连线间的寄生电容参数进行提取得到寄生电容参数提取值这一步放置在电路优化的循环体之外,在所述循环体中,代之循环执行费时极少的所述依据构建的电路中相邻连线间的寄生电容参数估算函数估算电路中相邻连线之间的寄生电容参数的步骤加速了整个优化过程,提高了优化效率。 | ||
申请公布号 | CN103150455A | 申请公布日期 | 2013.06.12 |
申请号 | CN201310109638.4 | 申请日期 | 2013.03.29 |
申请人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明人 | 吴玉平;陈岚;吕志强 |
分类号 | G06F17/50(2006.01)I | 主分类号 | G06F17/50(2006.01)I |
代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人 | 王宝筠 |
主权项 | 一种相邻连线间的寄生电容参数估算方法,应用于电路优化,其特征在于,包括:获取待优化电路中的各个电路器件的结构参数p1,p2,...,pn,n的取值为能够决定所述各个电路器件的几何尺寸的结构参数的个数,n的取值为正整数;依据所述各个电路器件的所述结构参数p1,p2,...,pn构建所述待优化电路中相邻连线间的寄生电容参数估算函数;以所述相邻连线间的寄生电容参数估算函数估算电路中相邻连线间的寄生电容参数。 | ||
地址 | 100029 北京市朝阳区北土城西路3号中科院微电子研究所A805 |