发明名称 |
阵列面板检测电路结构 |
摘要 |
本发明涉及一种阵列面板检测电路结构,包括纵向设置的第一栅极信号引线、第二栅极信号引线;横向设置的第一短接棒、第二短接棒,且第二短接棒设置在第一短接棒的上方;用于将第一栅极信号引线应连接到第一短接棒的第一检测连接片;用于将第二栅极信号引线连接到第二短接棒的第二检测连接片;第一栅极信号引线与第二栅极信号引线设置在第一短接棒的下方且与第一短接棒间设有间隔;第一检测连接片的一端与第一栅极信号引线的一端连接,另一端与第一短接棒连接;第二检测连接片的一端与第二栅极信号引线连接,另一端跨接到第二短接棒。实施本发明,在跨线处制程静电难以击穿,降低了产品损坏问题;提高了产品优良率和检测效率。 |
申请公布号 |
CN103149713A |
申请公布日期 |
2013.06.12 |
申请号 |
CN201310069063.8 |
申请日期 |
2013.03.05 |
申请人 |
深圳市华星光电技术有限公司 |
发明人 |
付延峰 |
分类号 |
G02F1/13(2006.01)I;G02F1/1362(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I |
主分类号 |
G02F1/13(2006.01)I |
代理机构 |
深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 |
代理人 |
蔡晓红;林俭良 |
主权项 |
一种阵列面板检测电路结构,其包括纵向设置的第一栅极信号引线、第二栅极信号引线;横向设置并用于检测所述第一栅极信号引线的第一短接棒、横向设置并用于检测所述第二栅极信号引线的第二短接棒,且所述第二短接棒设置在第一短接棒的上方;用于将所述第一栅极信号引线连接到所述第一短接棒的第一检测连接片;用于将所述第二栅极信号引线连接到第二短接棒的第二检测连接片,其特征在于,所述第一栅极信号引线与第二栅极信号引线设置在所述第一短接棒的下方且与所述第一短接棒间设有间隔;所述第一检测连接片的一端与所述第一栅极信号引线的一端连接,另一端与所述第一短接棒连接;所述第二检测连接片的一端与所述第二栅极信号引线连接,另一端跨接到所述第二短接棒。 |
地址 |
518132 广东省深圳市光明新区塘明大道9-2号 |