一种扫描链测试电路

摘要

本发明提供一种扫描链测试电路，其包括用于输入初始时钟的时钟输入端、锁相环、时钟生成单元、门控单元、第一选择器、功能触发器、门控逻辑单元、第二选择器和第三选择器，其中所述第二选择器利用测试使能选择初始时钟或所述锁相环输出的时钟以作为所述时钟生成单元中触发器的时钟端输入；所述第三选择器利用测试使能选择初始时钟或时钟生成单元输出的时钟以作为所述门控逻辑单元中触发器的时钟端输入。

主权项

一种扫描链测试电路，其包括用于输入初始时钟的时钟输入端、锁相环、多个时钟生成单元、多个门控单元、多个第一选择器、多个功能触发器、门控逻辑单元，其特征在于：其还包括有第三选择器和多个第二选择器，其中，所述时钟生成单元、门控单元、第一选择器、第二选择器以及功能触发器的数目相同，所述初始时钟输入给所述锁相环，所述锁相环与每个时钟生成单元中的触发器的输入端直接或间接相连，每个时钟生成单元的输出端与对应的一个门控单元的输入端相连，每个门控单元的输出端与对应的一个第一选择器的输入端相连，每个第一选择器的输出端与对应的一个功能触发器的时钟端相连，所述门控逻辑单元中的触发器的输出端与各门控单元的输入端相连，每个第一选择器利用测试使能选择初始时钟或与其对应的一个门控单元输出的信号以作为与其对应的一个功能触发器的时钟端的输入，每个第二选择器利用测试使能选择初始时钟或所述锁相环输出的时钟以作为与其对应的一个时钟生成单元中触发器的时钟端输入；所述第三选择器利用测试使能选择初始时钟或一个时钟生成单元输出的时钟以作为所述门控逻辑单元中触发器的时钟端输入，其还包括有第四选择器，其利用测试使能选择所述门控逻辑单元中的触发器的输出或外接电平作为各个门控单元的门控信号以保证各个门控单元打开，其中所述外接电平为高电平或低电平中的一种。