| 发明名称 | 测试元件的不合格标记的标记方法 | ||
| 摘要 | 测试元件的不合格标记的标记方法。该测试元件(112，114，116；246，254)适于检测样品(220)中的至少一种待分析物。对至少一些测试元件(112，114，116；246，254)提供包含有关测试元件(112，114，116；246，254)之缺陷信息的缺陷标记。该测试元件(112，114，116；246，254)具有至少一种辐射敏感材料(202)。使该测试元件(112，114，116；246，254)暴露于至少一种辐射(156)，该辐射(156)适于在辐射敏感材料(202)中引发形式为至少一种光学可检测的变化的标记。 | ||
| 申请公布号 | CN101430328B | 申请公布日期 | 2013.06.12 |
| 申请号 | CN200810149720.9 | 申请日期 | 2008.09.19 |
| 申请人 | 霍夫曼-拉罗奇有限公司 | 发明人 | J·K·罗帕;W·芬克;M·弗兰克;G·施米特;S·迪克;P·斯图本博德 |
| 分类号 | G01N33/50(2006.01)I;G01N33/66(2006.01)I;G01N31/00(2006.01)I;B41J2/435(2006.01)I | 主分类号 | G01N33/50(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 张群峰;何自刚 |
| 主权项 | 用于标记测试元件(112,114,116;246,254)的标记方法，该测试元件(112,114,116;246,254)适于检测样品(220)中的至少一种待分析物，对至少一些测试元件(112,114,116;246,254)提供包含有关测试元件(112,114,116;246,254)之缺陷信息的缺陷标记，其特征在于，该测试元件(112,114 , 116;246,254)具有至少一种辐射敏感材料(202)，使该测试元件(112,114 , 116;246,254)暴露于至少一种辐射(156)，该辐射(156)适于在辐射敏感材料(202)中引发形式为至少一种光学可检测的变化的标记。 | ||
| 地址 | 瑞士巴塞尔 | ||