一种基于缺陷检出率的相控阵超声检测扫查路径优化方法

摘要

一种基于缺陷检出率的相控阵超声检测扫查路径优化方法，包括如下步骤：S1根据待检工件易出现缺陷的位置的分布特点，将待检工件划分成N个检测区块，使每个检测区块Fi（i∈N）自身的厚度近似不变；S2寻找超声扫查探头在各检测区块上的最佳扫查点；S3连接各检测区块上的最佳扫查点得到一条优化的扫查路径。本发明能够将常规方法中的二维扫查范围优化为一条扫查线，大大缩短了探头的行走路径，减少了进行数据采集和数据分析的工作量，提高了检测效率。

主权项

一种基于缺陷检出率的相控阵超声检测扫查路径优化方法，其特征在于，包括如下步骤：S1根据待检工件易出现缺陷的位置的分布特点，将待检工件划分成N个检测区块，使每个检测区块Fi（i∈N）自身的厚度近似不变；S2寻找超声扫查探头在各检测区块上的最佳扫查点；S3连接各检测区块上的最佳扫查点得到一条优化的扫查路径。