发明名称 半导体薄膜、薄膜晶体管及其制造方法
摘要 本发明涉及一种含有1种以上的无定形的金属氧化物、且在上述金属氧化物的至少一部分的金属原子上键合有OH基的半导体薄膜。
申请公布号 CN103155154A 申请公布日期 2013.06.12
申请号 CN201180048961.4 申请日期 2011.10.11
申请人 出光兴产株式会社 发明人 西村麻美;川岛绘美;笠见雅司;松浦正英;糸濑将之
分类号 H01L29/786(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I;H01L21/363(2006.01)I 主分类号 H01L29/786(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 蒋亭
主权项 一种半导体薄膜,其含有1种以上的无定形的金属氧化物,且在所述金属氧化物的至少一部分金属原子上键合有OH基。
地址 日本国东京都