发明名称 成像器半导体器件、摄像机系统和用于建立图像的方法
摘要 本发明涉及成像器半导体器件、摄像机系统和用于建立图像的方法,该成像器半导体器件(6)用于汽车的摄像机系统(4),它包括:成像器像素(Bij)的二维的、集成的布置,用于接收视觉的或者红外射线(IR)并且输出图像信号(bij)。本发明规定,在该成像器半导体器件(6)上集成用于通过视觉的或者红外射线(IR)的传播时间测量的距离确定的测量单元(Pkl)、尤其是PMD单元。由此,实现单目的摄像机系统(4)以及其应用的方法,其中,发射用于传播时间测量的被调制的红外射线(IR),并且从由成像器像素(Bij)输出的图像信号(bij)和由测量单元(Pkl)输出测量单元信号(pkl)建立具有图像和深度显示的复合的图像,它包含测量单元(Pkl)的距离信息。
申请公布号 CN101281914B 申请公布日期 2013.06.12
申请号 CN200810004930.9 申请日期 2008.01.29
申请人 罗伯特·博世有限公司 发明人 A·维尔茨-韦塞尔;M·洛雷
分类号 G01S17/93(2006.01)I;G01S17/36(2006.01)I 主分类号 G01S17/93(2006.01)I
代理机构 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人 侯鸣慧
主权项 单目的摄像机系统(4),具有成像器半导体器件(6),用于发射用于传播时间测量的被调制的红外射线(IR)的照明装置(7),用于控制所述成像器半导体器件(6)和所述照明装置(7)的控制装置(8),和分析装置(10),其中,成像器半导体器件(6)具有用于接收红外射线(IR)并且输出图像信号(bij)的成像器像素(Bij)的至少一个二维的、集成的矩阵和用于通过红外射线(IR)的传播时间测量来确定距离的集成的测量单元(Pkl),其中,所述测量单元(Pkl)设置在成像器像素(Bij)的矩阵的每一个矩阵位置或者多个相邻的矩阵位置上,并且所述测量单元(Pkl)形成由行和列构成的另一矩阵布置,这些行和列具有相对于所述成像器像素(Bij)的矩阵多倍的间距,其中,所述分析装置(10)设置用于接收和分析由所述成像器像素(Bij)输出的图像信号(bij)和由所述测量单元(Pkl)输出的测量单元信号(pkl),其中,该分析装置(10)分析所述测量单元信号(pkl)中的距离信息并且建立具有图像显示和深度显示的组合图像,其中,对于成像器像素(Bij)的矩阵的被测量单元(Pkl)替代的矩阵位置,所述分析装置(10)借助由周围的成像器像素(Bij)的图像信号(bij)的内插求得图像值,其中,所述分析装置(10)从所述测量单元信号(pkl)的所求得的距离信息(d)借助于成像器像素(Bij)与测量单元(Pkl)之间的 已知的交叉校正来求得用于成像器像素(Bij)的图像信号(bij)的距离信息(d),并且在所输出的图像中显示具有所求得的距离信息(d)的图像信号(bij),以及其中,对于所述测量单元(Pkl)的所述矩阵位置,所述分析装置(10)通过带有死像素校正的图像算法求得图像值,其中,所述分析装置将时间上不改变的图像信号识别为有错误并且通过内插来代替。
地址 德国斯图加特