发明名称 |
光学模仁加工补偿方法 |
摘要 |
一种光学模仁加工补偿方法,该方法包含:(a)依据一光学设计结果以制作一光学系统雏形(prototype);(b)量测该光学系统的雏形之波前误差(wavefront error);(c)将该波前误差反向回馈至一光学设计软体,并在该光学设计软体内选定部分设计参数进行该光学系统优化以得到一组的设计参数;以及(d)根据该组的设计参数与该光学设计结果之差异值进行一光学模仁补正。 |
申请公布号 |
TWI398338 |
申请公布日期 |
2013.06.11 |
申请号 |
TW097112414 |
申请日期 |
2008.04.03 |
申请人 |
财团法人国家实验研究院 台北市大安区和平东路2段106号3楼 |
发明人 |
吴文弘;黄国政;陈炤彰;杨力权;黄吉宏 |
分类号 |
B29C39/22;G06F17/50;G02B3/02;B29L11/00 |
主分类号 |
B29C39/22 |
代理机构 |
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代理人 |
蔡清福 台北市中山区中山北路3段27号13楼 |
主权项 |
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地址 |
台北市大安区和平东路2段106号3楼 |