发明名称 |
干扰估测装置、决定保护区间与位元负载的方法及其装置 |
摘要 |
本发明揭露一种决定保护区间与位元负载的方法,其流程是先估测每一个子载波在没有子载波间干扰与符元间干扰的信号杂讯比来决定每一个子载波的第一位元负载,然后根据通道长度是否小于第一保护区间来决定是否采用第一位元负载与第一保护区间。若通道长度大于第一保护区间,则计算采用第一保护区间时每个子载波在有子载波间干扰与符元间干扰的信号杂讯比来决定每一个子载波的第二位元负载,并根据第一保护区间配合第二位元负载的位元产量与第二保护区间配合第一位元负载的位元产量来决定保护区间与位元负载。 |
申请公布号 |
TWI399062 |
申请公布日期 |
2013.06.11 |
申请号 |
TW097134249 |
申请日期 |
2008.09.05 |
申请人 |
联阳半导体股份有限公司 新竹县新竹科学工业园区创新一路13号3楼 |
发明人 |
叶恒诚 |
分类号 |
H04L27/28;H04L25/02 |
主分类号 |
H04L27/28 |
代理机构 |
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代理人 |
詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1 |
主权项 |
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地址 |
新竹县新竹科学工业园区创新一路13号3楼 |