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发明名称
检测设备
摘要
本发明系关于一种用于检测电路板是否失效之检测设备,其包括一测量装置及一监控装置,该测量装置包括一基座、一定位元件、一螺旋测微计及一固持机构,该定位元件固定于所述基座上,该螺旋测微计移动地连接于该定位元件上,用以抵持所述电路板之一端,该固持机构放置于所述基座,用以固定所述电路板之另一端,该监控装置与所述电路板电连接,用以判断所述电路板是否失效。
申请公布号
TWI398635
申请公布日期
2013.06.11
申请号
TW096104982
申请日期
2007.02.12
申请人
富士康(香港)有限公司 香港
发明人
李雷;陈平;成智;李虎;李冬;陶永智;董林森
分类号
G01N3/20
主分类号
G01N3/20
代理机构
代理人
虞彪 台北市中山区长安东路1段21号3楼
主权项
地址
香港
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