| 发明名称 | 氢氧化镁细颗粒和氧化镁细颗粒以及它们的制造方法 | ||
| 摘要 | 提供粒径小且均匀的高纯度氢氧化镁细颗粒以及高纯度氧化镁细颗粒。一种氢氧化镁细颗粒，其纯度为99.5质量%以上，BET比表面积为5m2/g以上，通过激光衍射散射式粒度分布测定得到的基于体积的累积50%粒径(D50)为0.1～0.5μm，通过激光衍射散射式粒度分布测定得到的基于体积的累积10%粒径(D10)与基于体积的累积90%粒径(D90)的比D90/D10为10以下；以及一种氧化镁细颗粒，其纯度为99.5质量%以上，BET比表面积为5m2/g以上，通过激光衍射散射式粒度分布测定得到的基于体积的累积50%粒径(D50)为0.1～0.5μm，通过激光衍射散射式粒度分布测定得到的基于体积的累积10%粒径(D10)与基于体积的累积90%粒径(D90)的比D90/D10为10以下。 | ||
| 申请公布号 | CN103140446A | 申请公布日期 | 2013.06.05 |
| 申请号 | CN201180047086.8 | 申请日期 | 2011.09.27 |
| 申请人 | 达泰豪化学工业株式会社 | 发明人 | 大崎善久 |
| 分类号 | C01F5/22(2006.01)I;C01F5/08(2006.01)I | 主分类号 | C01F5/22(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人 | 刘新宇;李茂家 |
| 主权项 | 一种氢氧化镁细颗粒，其纯度为99.5质量%以上，BET比表面积为5m2/g以上，通过激光衍射散射式粒度分布测定得到的基于体积的累积50%粒径D50为0.1～0.5μm，通过激光衍射散射式粒度分布测定得到的基于体积的累积10%粒径D10与基于体积的累积90%粒径D90的比D90/D10为10以下。 | ||
| 地址 | 日本兵库县 | ||