发明名称 |
纳米颗粒收集装置 |
摘要 |
本发明揭露一种纳米颗粒收集装置,包含压力腔、滤膜与压力建立装置。压力腔具有至少一试样入口与至少一滤液出口于其上。滤膜设置于滤液出口。压力建立装置用以将内含多个纳米颗粒的试样从试样入口注入压力腔,并借此于压力腔内建立压力,以迫使试样通过滤膜而至滤液出口,并将纳米颗粒留在滤膜上。 |
申请公布号 |
CN103127826A |
申请公布日期 |
2013.06.05 |
申请号 |
CN201110402735.3 |
申请日期 |
2011.12.02 |
申请人 |
曹崇铭;王明光 |
发明人 |
曹崇铭;王明光 |
分类号 |
B01D61/00(2006.01)I;B01D29/07(2006.01)I |
主分类号 |
B01D61/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 |
代理人 |
徐金国 |
主权项 |
一种纳米颗粒收集装置,其特征在于,包含:一压力腔,具有至少一试样入口与至少一滤液出口于其上;一滤膜,设置于该滤液出口;以及一压力建立装置,用以将内含多个纳米颗粒的一试样从该试样入口注入该压力腔,并借此于该压力腔内建立压力,以迫使该试样通过该滤膜而至该滤液出口,并将该些纳米颗粒留在该滤膜上。 |
地址 |
中国台湾台北市罗斯福路四段1号 |