| 发明名称 | 一种误码仪测试装置 | ||
| 摘要 | 本实用新型公开了一种误码仪测试装置，包括：码型产生器，用于产生多路伪随机码型的信号；发送端信号处理电路，用于调节所述多路伪随机码型的信号，并以交流耦合的方式发送信号至被测设备；接收端信号处理电路，用于接收该被测设备返回的信号并进行信号高频损耗进行补偿，并送入码型比对器进行误码比对。本实用新型采取了上述方案以后能够对信号进行多路误码测试，减少了链路复杂度。 | ||
| 申请公布号 | CN202978990U | 申请公布日期 | 2013.06.05 |
| 申请号 | CN201220624622.8 | 申请日期 | 2012.11.13 |
| 申请人 | 武汉普赛斯电子技术有限公司 | 发明人 | 黄秋元 |
| 分类号 | H04L12/26(2006.01)I | 主分类号 | H04L12/26(2006.01)I |
| 代理机构 | 代理人 | ||
| 主权项 | 一种误码仪测试装置，其特征在于，包括：码型产生器，用于产生多路伪随机码型的信号；发送端信号处理电路，用于调节所述多路伪随机码型的信号，并以交流耦合的方式发送信号至被测设备；接收端信号处理电路，用于接收该被测设备返回的信号并进行信号高频损耗进行补偿，并送入码型比对器进行误码比对。 | ||
| 地址 | 430000 湖北省武汉市东湖高新区武大科技园武大园二路兴业楼南楼一单元802室 | ||