发明名称 具有改进的栅极平坦性的FinFET
摘要 本发明的各种实施例总体上涉及具有改进的栅极平坦性的FinFET,具体而言,公开了一种具有改进的栅极平坦性的FinFET和制作方法。栅极在去除任何非所需鳍之前设置于鳍图案上。光刻技术或者蚀刻技术或者二者的组合可以用来去除非所需鳍。可以合并剩余鳍中的所有鳍或者一些鳍。
申请公布号 CN103137493A 申请公布日期 2013.06.05
申请号 CN201210482758.4 申请日期 2012.11.23
申请人 国际商业机器公司 发明人 T·E·斯坦达尔特;程慷果;B·S·哈朗;S·波诺斯;徐顺天;山下典洪
分类号 H01L21/336(2006.01)I;H01L29/78(2006.01)I 主分类号 H01L21/336(2006.01)I
代理机构 北京市金杜律师事务所 11256 代理人 酆迅;张宁
主权项 一种制作FinFET的方法,包括:形成鳍图案,其中每个鳍包括设置于其上的鳍硬掩模层;在所述鳍图案之上沉积栅极层;在所述栅极层之上沉积栅极硬掩模层;去除所述栅极硬掩模层和所述栅极层的部分,由此暴露所述鳍图案;在来自所述鳍图案的鳍的第一子集之上沉积抗蚀层;使用蚀刻从所述鳍图案去除所述鳍的第二子集;并且合并所述鳍的第一子集的至少一些鳍。
地址 美国纽约阿芒克