发明名称 |
具有改进的栅极平坦性的FinFET |
摘要 |
本发明的各种实施例总体上涉及具有改进的栅极平坦性的FinFET,具体而言,公开了一种具有改进的栅极平坦性的FinFET和制作方法。栅极在去除任何非所需鳍之前设置于鳍图案上。光刻技术或者蚀刻技术或者二者的组合可以用来去除非所需鳍。可以合并剩余鳍中的所有鳍或者一些鳍。 |
申请公布号 |
CN103137493A |
申请公布日期 |
2013.06.05 |
申请号 |
CN201210482758.4 |
申请日期 |
2012.11.23 |
申请人 |
国际商业机器公司 |
发明人 |
T·E·斯坦达尔特;程慷果;B·S·哈朗;S·波诺斯;徐顺天;山下典洪 |
分类号 |
H01L21/336(2006.01)I;H01L29/78(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/336(2006.01)I |
代理机构 |
北京市金杜律师事务所 11256 |
代理人 |
酆迅;张宁 |
主权项 |
一种制作FinFET的方法,包括:形成鳍图案,其中每个鳍包括设置于其上的鳍硬掩模层;在所述鳍图案之上沉积栅极层;在所述栅极层之上沉积栅极硬掩模层;去除所述栅极硬掩模层和所述栅极层的部分,由此暴露所述鳍图案;在来自所述鳍图案的鳍的第一子集之上沉积抗蚀层;使用蚀刻从所述鳍图案去除所述鳍的第二子集;并且合并所述鳍的第一子集的至少一些鳍。 |
地址 |
美国纽约阿芒克 |