发明名称 GaN基p-i-p-i-n结构紫外探测器及其制备方法
摘要 本发明涉及紫外探测器技术领域,公开了一种GaN基p-i-p-i-n结构紫外探测器及其制备方法,该探测器自下至上依次包括用于生长AlxGa1-xN材料的衬底、n型层、i型倍增层、p型过渡层、i型光敏吸收层和p型层,其中,0≤x≤1。本发明的探测器具有如下两个优点:第一,倍增区和吸收区分离的特点使载流子雪崩倍增距离提高,从而使灵敏度大大增加。第二,在p-i-p-i-n结构中,电场主要集中于倍增区,这种特点使得吸收区可以做得更厚,从而使得吸收效率提高的同时基本不影响工作电压的选取,进而使得工作点的选取变得更加灵活,探测器的适用性得以提高。
申请公布号 CN102386269B 申请公布日期 2013.06.05
申请号 CN201110391564.9 申请日期 2011.11.30
申请人 清华大学 发明人 汪莱;郑纪元;郝智彪;罗毅
分类号 H01L31/105(2006.01)I;H01L31/0352(2006.01)I;H01L31/18(2006.01)I 主分类号 H01L31/105(2006.01)I
代理机构 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人 王莹
主权项 一种GaN基p‑i‑p‑i‑n结构紫外探测器,其特征在于,自下至上依次包括用于生长AlxGa1‑xN材料的衬底、n型层、i型倍增层、p型过渡层,i型光敏吸收层和p型层,其中,0≤x≤1。
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