发明名称 |
一种获得超材料折射率分布的方法和装置 |
摘要 |
本发明公开了一种获得超材料折射率分布的方法和装置。所述方法和装置包括:采用仿真方式使电磁波透过所述超材料;获取用以描述和衡量所述超材料对电磁波响应的数据,包括所述电磁波透过所述超材料后的近场后表面相位数据;判断目标近场相位数据与获取的近场后表面相位数据之间的差距是否小于第一阈值,若未小于所述第一阈值,采用基于梯度调节的方式,改变所述超材料折射率的分布,并返回获取所述超材料对电磁波响应的数据,进行循环,直至目标近场相位数据与获取的近场后表面相位数据之间的差距小于第一阈值;获取超材料的折射率分布。本发明与传统手动计算相比更加高效。 |
申请公布号 |
CN103136404A |
申请公布日期 |
2013.06.05 |
申请号 |
CN201110396288.5 |
申请日期 |
2011.12.02 |
申请人 |
深圳光启高等理工研究院 |
发明人 |
刘若鹏;季春霖;岳玉涛;李勇祥 |
分类号 |
G06F17/50(2006.01)I |
主分类号 |
G06F17/50(2006.01)I |
代理机构 |
深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 |
代理人 |
何青瓦 |
主权项 |
一种获得超材料折射率分布的方法,其特征在于,包括:采用仿真方式使电磁波透过所述超材料;获取用以描述和衡量所述超材料对电磁波响应的数据,包括所述电磁波透过所述超材料后的近场后表面相位数据;获取目标近场相位数据与获取的近场后表面相位数据之间的差距;判断所述目标近场相位数据与获取的近场后表面相位数据之间的差距是否小于第一阈值,若未小于所述第一阈值,采用基于梯度调节的方式改变所述超材料折射率的分布,并返回获取所述超材料对电磁波响应的数据,进行循环,直至所述目标近场相位数据与获取的近场后表面相位数据之间的差距小于所述第一阈值;获取所述目标近场相位数据与获取的近场后表面相位数据之间的差距小于所述第一阈值时超材料的折射率分布。 |
地址 |
518057 广东省深圳市南山区高新区中区高新中一道9号软件大厦 |