| 发明名称 | 一种测试单元以及阵列基板 | ||
| 摘要 | 本实用新型提供一种测试单元，该测试单元包括用于与探针相接触的末端模块，所述末端模块为分叉结构。其中，所述末端模块包括与所述探针接触的衬底以及测试信号线，所述测试信号线的一端与所述衬底连接，另一端与待测试对象连接。还包括一种采用该测试单元的阵列基板。采用该测试单元，既能保证探针与测试单元点接触成功率，又能避免在后续摩擦工艺中该测试单元与摩擦绒毛接触面积过大而产生静电放电，提高了产品良率。 | ||
| 申请公布号 | CN202975527U | 申请公布日期 | 2013.06.05 |
| 申请号 | CN201220661627.8 | 申请日期 | 2012.12.04 |
| 申请人 | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 | 发明人 | 范延江 |
| 分类号 | G02F1/13(2006.01)I;G02F1/1362(2006.01)I;G02F1/1368(2006.01)I;G01R1/06(2006.01)I | 主分类号 | G02F1/13(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人 | 罗建民;邓伯英 |
| 主权项 | 一种测试单元，该测试单元包括用于与探针相接触的末端模块，其特征在于，所述末端模块为分叉结构。 | ||
| 地址 | 100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号 | ||