| 发明名称 | 用于存储器验证的内部数据比较 | ||
| 摘要 | 本发明涉及用于存储器验证的内部数据比较。公开了一种将数据编程到非易失性存储器阵列的行中并且在所述非易失性存储器阵列内部验证所述数据被成功地编程的方法和装置。所述验证包括将来自于非易失性存储器阵列的所述行的所编程的数据与用于对所述行编程的多个高电压页锁存器中的数据相比较。 | ||
| 申请公布号 | CN103136135A | 申请公布日期 | 2013.06.05 |
| 申请号 | CN201210490733.9 | 申请日期 | 2012.11.27 |
| 申请人 | 赛普拉斯半导体公司 | 发明人 | 赖安·T·希罗斯;约翰·蒂埃德;尤斯廷·伊格纳泰斯库 |
| 分类号 | G06F13/16(2006.01)I | 主分类号 | G06F13/16(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人 | 周靖;郑霞 |
| 主权项 | 一种方法，包括：通过处理设备将数据编程到非易失性存储器阵列的行中；以及在所述非易失性存储器阵列内部验证所述数据被成功地编程。 | ||
| 地址 | 美国加利福尼亚州 | ||