一种减小双折射色散对保偏光纤偏振耦合测量影响的装置

摘要

本发明提供的是一种减小双折射色散对保偏光纤偏振耦合测量影响的装置。包括宽谱光源(1)、待测保偏光纤(3)、偏振耦合检测装置(4)、第一连接光纤(53)、第二连接光纤(54)，还包括三端口光环行器(2)、半反半透光束偏振旋光器(6)、旋光器(7)、第一旋转连接器(51)和第二旋转连接器(52)。半反半透偏振旋光器将宽谱光分成均匀两束，同时从正向和逆向通过待测光纤，利用同一偏振耦合检测装置，同时获得扫描位置对称地两幅偏振耦合测量数据。本发明对于光纤陀螺敏感环的参数测量与性能评价具有非常重要的实用价值，也可广泛应用于分布式保偏光纤传感系统中。

主权项

一种减小双折射色散对保偏光纤偏振耦合测量影响的装置，包括宽谱光源（1）、待测保偏光纤（3）、偏振耦合检测装置（4）、第一连接光纤（53）、第二连接光纤（54），其特征是：还包括三端口光环行器（2）、半反半透光束偏振旋光器（6）、旋光器（7）、第一旋转连接器（51）和第二旋转连接器（52）；由宽谱光源（1）发出的低相干偏振光通过三端口光环行器（2）和第一旋转连接器（51），注入待测保偏光纤（3）的某一偏振保持轴，传输光及其在耦合点产生的微弱耦合光通过第二旋转连接器（52）后，被半反半透光束偏振旋光器（6）分成透射光和反射光两束，透射光直接进入偏振耦合检测装置（4），反射光经半反半透光束偏振旋光器（6）对调传输光的传播偏振轴后沿原路返回、再次经过待测保偏光纤（3）后由三端口光环行器（2）的反射端（c3）输入到偏振耦合检测装置（4）中；透射光和反射光分别携带待测光纤正向测量和反向测量的耦合点位置和幅度信息，由偏振耦合检测装置（4）同时完成光程扫描，测量得到关于待测光纤中点对称测量数据，通过对测量数据的处理和综合抑制双折射色散影响。