发明名称 一种晶圆级阳极键合方法
摘要 本发明涉及一种晶圆级阳极键合方法。所述晶圆级阳极键合方法,包括如下步骤:将待键合的硅或金属样片和玻璃样片浸泡到清洗液中清洗;将清洗后的硅或金属样片和玻璃样片吹干,放入键合装置中,一边加热,一边抽真空,到达预设工作温度和真空度后,加电压到单点阴极,使贴合后的硅和玻璃发生第一次阳极键合;将第一次阳极键合后的样片,放入键合装置中,一边加热,一边抽真空,到达预设工作温度和真空度后,加电压和压力到平板阴极,使第一次键合后的样片中未键合部分全部完成键合。本发明使用两步键合的方法,能够实现大面积、键合界面无气泡的高质量、高效率的阳极键合,工艺过程简单,可控性强。
申请公布号 CN103130180A 申请公布日期 2013.06.05
申请号 CN201110395020.X 申请日期 2011.12.02
申请人 中国科学院微电子研究所 发明人 罗巍;解婧;张阳;李超波;夏洋
分类号 B81C3/00(2006.01)I 主分类号 B81C3/00(2006.01)I
代理机构 北京市德权律师事务所 11302 代理人 刘丽君
主权项 一种晶圆级阳极键合方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)将待键合的硅或金属样片和玻璃样片浸泡到清洗液中清洗;(2)将清洗后的所述硅或金属样片和玻璃样片吹干,放入键合装置中,一边加热,一边抽真空,到达预设工作温度和真空度后,加电压到单点阴极,使贴合后的硅或金属样片和玻璃发生第一次阳极键合;(3)将所述第一次阳极键合后的样片,放入所述键合装置中,一边加热,一边抽真空,到达预设工作温度和真空度后,加电压和压力到平板阴极,使所述第一次键合后的样片中未键合部分全部完成键合。
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